Увеличение отношения сигнал/шум за счёт пространственного усреднения при регистрации изображений

Обложка

Цитировать

Полный текст

Аннотация

Для метода однократной экспозиции с пространственным усреднением получены расчётные оценки временных и пространственных шумов и отношений сигнал/шум. Определены два необходимых условия для достижения максимального увеличения отношения сигнал/шум. Полученные экспериментальные результаты подтверждают расчётные оценки изменения пространственного разрешения изображения и достижимого увеличения отношения сигнал/шум. Совместное применение для повышения отношения сигнал/шум рассмотренного метода однократной экспозиции с пространственным усреднением и метода многократной экспозиции позволит гибко сочетать требования к скорости регистрации изображений и количеству разрешимых элементов в изображениях.

Об авторах

Николай Николаевич Евтихиев

Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»

Email: NNEvtikhiyev@mephi.ru
Кафедра лазерной физики

Виталий Вячеславович Краснов

Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»

Email: vitaly.krasnov@mail.ru
Кафедра лазерной физики

Владислав Геннадьевич Родин

Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»

Email: holo@pico.mephi.ru
Кафедра лазерной физики

Иван Владимирович Солякин

Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»

Email: solid25@mail.ru
Кафедра лазерной физики

Сергей Николаевич Стариков

Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»

Email: holo@pico.mephi.ru
Кафедра лазерной физики

Павел Аркадьевич Черёмхин

Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»

Email: cheremhinpavel@mail.ru
Кафедра лазерной физики

Екатерина Алексеевна Шапкарина

Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»

Email: solid25@mail.ru
Кафедра лазерной физики

Список литературы

  2. Janesick J. Scientific Charge-Coupled Devices. — Washington: SPIE Press, Bellingham, 2000.
  3. El Gamal A., Eltoukhy H. CMOS Image Sensors // IEEE Circuits and Devices Magazine. — 2005. — Vol. 21, No 3. — Pp. 6–20.
  4. Nakamura J. Image Sensors and Signal Processing for Digital Still Cameras. —Boca Raton, FL: CRC Press, 2006.
  5. Fukuda M. Optical Semiconductor Devices. — New York: John Wiley & Sons Inc., 2003.
  6. Hytti H. T. Characterization of Digital Image Noise Properties Based on Raw Data // Proc. SPIE. — Vol. 6059. — 2006. — P. 60590A.
  7. A Model for Measurement of Noise in CCD Digital-Video Cameras / K. Irie, A. E. McKinnon, K. Unsworth, I. M. Woodhead // Meas. Sci. Technol. — 2008. — Vol. 19. — P. 045207.
  8. EMVA Standard 1288, Standard for Characterization of Image Sensors andCameras. — 2010. — http://www.emva.org/cms/upload/Standards/Stadard\ _1288/EMVA1288-3.0.pdf.
  9. Fridrich J. Digital Image Forensic Using Sensor Noise // IEEE Signal Processing Magazine. — 2009. — Vol. 26, No 2. — Pp. 26–37.
  10. Исследование характеристик матричных фоторегистраторов для записи цифровых голограмм / Э. А. Маныкин, С. Н. Стариков, В. Г. Родин и др. // Сборник трудов 7 Международной конференции «ГОЛОЭКСПО — 2010». — М., 2010. — С. 306–310.
  11. Measurement of Noises and Modulation Transfer Function of Cameras Used in Optical-Digital Correlators / N. N. Evtikhiev, S. N. Starikov, P. A. Cheryomkhin, V. V. Krasnov // Proc. SPIE. — Vol. 8301. — 2012. — P. 830113.

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML
Скачать

© Евтихиев Н.Н., Краснов В.В., Родин В.Г., Солякин И.В., Стариков С.Н., Черёмхин П.А., Шапкарина Е.А., 2012

Creative Commons License
Эта статья доступна по лицензии Creative Commons Attribution 4.0 International License.