Увеличение отношения сигнал/шум за счёт пространственного усреднения при регистрации изображений

Обложка

Цитировать

Полный текст

Аннотация

Для метода однократной экспозиции с пространственным усреднением получены расчётные оценки временных и пространственных шумов и отношений сигнал/шум. Определены два необходимых условия для достижения максимального увеличения отношения сигнал/шум. Полученные экспериментальные результаты подтверждают расчётные оценки изменения пространственного разрешения изображения и достижимого увеличения отношения сигнал/шум. Совместное применение для повышения отношения сигнал/шум рассмотренного метода однократной экспозиции с пространственным усреднением и метода многократной экспозиции позволит гибко сочетать требования к скорости регистрации изображений и количеству разрешимых элементов в изображениях.

Об авторах

Николай Николаевич Евтихиев

Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»

Email: NNEvtikhiyev@mephi.ru
Кафедра лазерной физики

Виталий Вячеславович Краснов

Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»

Email: vitaly.krasnov@mail.ru
Кафедра лазерной физики

Владислав Геннадьевич Родин

Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»

Email: holo@pico.mephi.ru
Кафедра лазерной физики

Иван Владимирович Солякин

Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»

Email: solid25@mail.ru
Кафедра лазерной физики

Сергей Николаевич Стариков

Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»

Email: holo@pico.mephi.ru
Кафедра лазерной физики

Павел Аркадьевич Черёмхин

Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»

Email: cheremhinpavel@mail.ru
Кафедра лазерной физики

Екатерина Алексеевна Шапкарина

Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»

Email: solid25@mail.ru
Кафедра лазерной физики

Список литературы

  2. Janesick J. Scientific Charge-Coupled Devices. — Washington: SPIE Press, Bellingham, 2000.
  3. El Gamal A., Eltoukhy H. CMOS Image Sensors // IEEE Circuits and Devices Magazine. — 2005. — Vol. 21, No 3. — Pp. 6–20.
  4. Nakamura J. Image Sensors and Signal Processing for Digital Still Cameras. —Boca Raton, FL: CRC Press, 2006.
  5. Fukuda M. Optical Semiconductor Devices. — New York: John Wiley & Sons Inc., 2003.
  6. Hytti H. T. Characterization of Digital Image Noise Properties Based on Raw Data // Proc. SPIE. — Vol. 6059. — 2006. — P. 60590A.
  7. A Model for Measurement of Noise in CCD Digital-Video Cameras / K. Irie, A. E. McKinnon, K. Unsworth, I. M. Woodhead // Meas. Sci. Technol. — 2008. — Vol. 19. — P. 045207.
  8. EMVA Standard 1288, Standard for Characterization of Image Sensors andCameras. — 2010. — http://www.emva.org/cms/upload/Standards/Stadard\ _1288/EMVA1288-3.0.pdf.
  9. Fridrich J. Digital Image Forensic Using Sensor Noise // IEEE Signal Processing Magazine. — 2009. — Vol. 26, No 2. — Pp. 26–37.
  10. Исследование характеристик матричных фоторегистраторов для записи цифровых голограмм / Э. А. Маныкин, С. Н. Стариков, В. Г. Родин и др. // Сборник трудов 7 Международной конференции «ГОЛОЭКСПО — 2010». — М., 2010. — С. 306–310.
  11. Measurement of Noises and Modulation Transfer Function of Cameras Used in Optical-Digital Correlators / N. N. Evtikhiev, S. N. Starikov, P. A. Cheryomkhin, V. V. Krasnov // Proc. SPIE. — Vol. 8301. — 2012. — P. 830113.

© Евтихиев Н.Н., Краснов В.В., Родин В.Г., Солякин И.В., Стариков С.Н., Черёмхин П.А., Шапкарина Е.А., 2012

Creative Commons License
Эта статья доступна по лицензии Creative Commons Attribution 4.0 International License.

Данный сайт использует cookie-файлы

Продолжая использовать наш сайт, вы даете согласие на обработку файлов cookie, которые обеспечивают правильную работу сайта.

О куки-файлах