ОСОБЕННОСТИ ИСПОЛЬЗОВАНИЯ СТАНДАРТОВ В ЗАДАЧАХ ТЕСТИРОВАНИЯ
- Авторы: Деменкова ТА1, Коржова ОА1
-
Учреждения:
- Московский технологический университет (МИРЭА)
- Выпуск: № 2 (2016)
- Страницы: 17-25
- Раздел: Статьи
- URL: https://journals.rudn.ru/engineering-researches/article/view/13138
Цитировать
Полный текст
Аннотация
Рассматриваются актуальные проблемы диагностирования цифровых устройств на всех этапах проектирования, включая выбор общей структуры проекта, функциональную верификацию, программирование кристалла, формирование конфигурации, временную проверку отдельных блоков проекта и аппаратное тестирование. Проведены исследования в части развития стандартов периферийного сканирования и их приложений для различных проектов за последнее время. Представлены различные современные стандарты в маршруте автоматического проектирования, цифровой стандарт периферийного сканирования для тестирования многослойных печатных плат, стандарт для сокращения затрат на тестирование СБИС с дальнейшей возможностью повторного использования для других задач и инструменты для периферийного сканирования, позволяющие производить структурное тестирование и тестопригодное проектирование. Рассмотрены стандарты, обеспечивающие внутрисхемное конфигурирование интегральных микросхем, и их связь с устранением неисправностей прототипов и тестированием качества монтажа, сборки узлов и систем. Отдельно рассмотрен стандарт, определяющий классы встроенных инструментов тестирования с оболочками и механизмами управления, совместимыми с предыдущими стандартами. На основе анализа существующих решений в маршруте проектирования цифровых устройств разного назначения разработано решение проблемы диагностирования с учетом специфики применяемой элементной базы. Разработанный маршрут проектирования цифровых устройств на современных программируемых интегральных схемах с использованием последних разработок стандартов периферийного сканирования позволит проводить тестирование разработки на базе микросхем различных производителей. Предложенный метод диагностирования на основе разработанных стандартов может использоваться и при разработке различных проектов на базе отечественной элементной базы, что является своевременным для решения важной проблемы импортозамещения.
Об авторах
Т А Деменкова
Московский технологический университет (МИРЭА)
О А Коржова
Московский технологический университет (МИРЭА)
Список литературы
- Городецкий А.С. Тестирование и тестопригодность // Компоненты и технологии. 2009. № 2.
- Деменкова Т.А. Диагностика цифровых устройств: учеб. пособие. М.: МИРЭА, 2008.
- Деменкова Т.А., Николаев С.А. Методика тестопригодного проектирования цифровых устройств. Информационные технологии и системы. Вычислительная техника: Сб. научн. трудов. Ч. 1. М.: МИРЭА, 2012.
- Деменкова Т.А., Николаев С.А. Модель блока поддержки технологии граничного сканирования для задач тестирования цифровых схем. Наука и образование. 2012. № 4. URL: http://technomag.edu.ru/issue/311245.html (дата обращения 05.04.2015).
- Иванов А.В. Инструменты для периферийного сканирования // Компоненты и технологии. 2010. № 9.
- IEEE Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture, IEEE Computer Society, IEEE, New York, NY, IEEE Std 1149.1 - 2001.
- Demenkova T.A., Nikolaev S.A., Pevtsov E.Ph. Program Model of Multipurpose Block of Testing // Humanities & Science University Journal. 2013. № 5.