RUDN Journal of Engineering ResearchRUDN Journal of Engineering ResearchВестник Российского университета дружбы народов. Серия: Инженерные исследования2312-81432312-8151Peoples’ Friendship University of Russia named after Patrice Lumumba (RUDN University)13138ArticlesСтатьиResearch ArticleFEATURES OF USE OF STANDARDS IN TASKS OF TESTINGОСОБЕННОСТИ ИСПОЛЬЗОВАНИЯ СТАНДАРТОВ В ЗАДАЧАХ ТЕСТИРОВАНИЯDemenkovaT AДеменковаТ А-KorzhovaO AКоржоваО А-Moscow Technological University (MIREA)Московский технологический университет (МИРЭА)150220162NO2 (2016)№2 (2016)172517092016Copyright ©; 2016, Деменкова Т.А., Коржова О.А.2016Деменкова Т.А., Коржова О.А.http://creativecommons.org/licenses/by/4.0https://journals.rudn.ru/engineering-researches/article/view/13138Actual problems of diagnosing of digital devices at all design stages, including the choice of the general structure of the project, functional verification, programming of crystal, formation of configuration, temporary check of separate blocks of the project and hardware testing are considered. Researches regarding development of standards of boundary scan and their appendices for various projects are conducted lately. Various modern standards in a route of automatic design, the digital standard of peripheral scanning for testing of multilayered printed circuit boards, the standard for reduction of costs of testing of VLCI with further possibility of reuse for other tasks and the tools for boundary scan allowing to make structural testing and testable design are submitted. The standards providing an intra circuit configuration of integrated chips, and their connection with elimination of malfunctions of prototypes and testing of quality of installation, assembly of knots and systems are considered. The standard defining classes of the built-in instruments of testing with the covers and mechanisms of management compatible to the previous standards is separately considered. On the basis of the analysis of the existing decisions in a route of design of digital devices of different function the solution of the problem of diagnosing taking into account specifics of the applied element base is developed. The developed route of design of digital devices on modern programmable integrated circuits with use of the last developments of standards of boundary scan will allow to hold testing of development on the basis of chips of various producers. The offered diagnosing method on the basis of the developed standards can be used also when developing various projects on the basis of domestic element base that is timely for the solution of the important problem of import substitution.Рассматриваются актуальные проблемы диагностирования цифровых устройств на всех этапах проектирования, включая выбор общей структуры проекта, функциональную верификацию, программирование кристалла, формирование конфигурации, временную проверку отдельных блоков проекта и аппаратное тестирование. Проведены исследования в части развития стандартов периферийного сканирования и их приложений для различных проектов за последнее время. Представлены различные современные стандарты в маршруте автоматического проектирования, цифровой стандарт периферийного сканирования для тестирования многослойных печатных плат, стандарт для сокращения затрат на тестирование СБИС с дальнейшей возможностью повторного использования для других задач и инструменты для периферийного сканирования, позволяющие производить структурное тестирование и тестопригодное проектирование. Рассмотрены стандарты, обеспечивающие внутрисхемное конфигурирование интегральных микросхем, и их связь с устранением неисправностей прототипов и тестированием качества монтажа, сборки узлов и систем. Отдельно рассмотрен стандарт, определяющий классы встроенных инструментов тестирования с оболочками и механизмами управления, совместимыми с предыдущими стандартами. На основе анализа существующих решений в маршруте проектирования цифровых устройств разного назначения разработано решение проблемы диагностирования с учетом специфики применяемой элементной базы. Разработанный маршрут проектирования цифровых устройств на современных программируемых интегральных схемах с использованием последних разработок стандартов периферийного сканирования позволит проводить тестирование разработки на базе микросхем различных производителей. Предложенный метод диагностирования на основе разработанных стандартов может использоваться и при разработке различных проектов на базе отечественной элементной базы, что является своевременным для решения важной проблемы импортозамещения.testingprinted circuit boardsprogrammable logical integrated circuitsdiagnosticselectronic modulesboundary scanтестированиепечатные платыпрограммируемые логические интегральные схемыдиагностикаэлектронные модулипериферийное сканирование1.Городецкий А.С. Тестирование и тестопригодность // Компоненты и технологии. 2009. № 2.2.Деменкова Т.А. Диагностика цифровых устройств: учеб. пособие. М.: МИРЭА, 2008.3.Деменкова Т.А., Николаев С.А. Методика тестопригодного проектирования цифровых устройств. Информационные технологии и системы. Вычислительная техника: Сб. научн. трудов. Ч. 1. М.: МИРЭА, 2012.4.Деменкова Т.А., Николаев С.А. Модель блока поддержки технологии граничного сканирования для задач тестирования цифровых схем. Наука и образование. 2012. № 4. URL: http://technomag.edu.ru/issue/311245.html (дата обращения 05.04.2015).5.Иванов А.В. Инструменты для периферийного сканирования // Компоненты и технологии. 2010. № 9.6.IEEE Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture, IEEE Computer Society, IEEE, New York, NY, IEEE Std 1149.1 - 2001.7.Demenkova T.A., Nikolaev S.A., Pevtsov E.Ph. Program Model of Multipurpose Block of Testing // Humanities & Science University Journal. 2013. № 5.