Оценка потерь в оптических плёночных волноводах с шероховатыми границами и поглощением
- Авторы: Даниленко С.С.1, Осовицкий А.Н.1
-
Учреждения:
- Российский университет дружбы народов
- Выпуск: № 1 (2013)
- Страницы: 141-147
- Раздел: Статьи
- URL: https://journals.rudn.ru/miph/article/view/8326
Цитировать
Полный текст
Аннотация
Методом малых возмущений с использованием оптико-геометрического подхода решена задача о распространении света в плёночном волноводе с шероховатыми границами и поглощением. Выполнены экспериментальные исследования указанных волноводных структур. Результаты этих исследований несколько расходятся с выводами развитой теории. В итоге анализа выявленных несоответствий предложена более точная модель процесса рассеяния в плёночных волноводах с шероховатыми границами.
Ключевые слова
Об авторах
Станислав Сергеевич Даниленко
Российский университет дружбы народов
Email: danstaser@mail.ru
Кафедра радиофизики
Анатолий Николаевич Осовицкий
Российский университет дружбы народов
Email: aosov41@mail.ru
Кафедра радиофизики
Список литературы
- Лебеденко Е. SNIPER: светлое будущее кремниевой нанофотоники // Компьютерра. — 2011. — № 79. — С. 17–46.
- Vlasov Y.A., McNab S.J. Losses in Single-Mode Silicon-on-Insulator Strip Waveguides and Bends // Optics Express. — 2004. — Vol. 12, No 8. — Pp. 1622–1631.
- Assefa S., Xia F., Vlasov Y.A. Reinventing Germanium Avalanche Photodetector for Nanophotonic On-Chip Optical Interconnects // Nature. — 2010. — No 464. — Pp. 80–84.
- Ultra-Compact, Low RF Power, 10 Gb/s Silicon Mach-Zehnder Modulator / W.M.J. Green, M.J. Rooks, L. Sekaric, Y.A. Vlasov // Optics Express. — 2007. — Vol. 15, No 25. — Pp. 17106–17113.
- Stutius W., Streifer W. Silikon Nitride Films on Silicon for Optical Waveguides // Appl.Optics. — 1977. — Vol. 16, No 12. — Pp. 3218–3222.
- Осовицкий А.Н. Интегральный подход к измерению параметров шероховатости поверхности по рассеянию света в диэлектрических волноводах // Радиотехника и электроника. — 2011. — Т. 56, № 1. — С. 43–47.
- Хаспенджер Р. Интегральная оптика: теория и технология. — М.: Мир, 1985.
- Осовицкий А.Н., Тупанов Л.В. Характеристики волноводного метода измерения параметров шероховатости гладких поверхностей диэлектриков // Радиотехника и электроника. — 2008. — Т. 53, № 6. — С. 706–714.
- Osovitskiy A.N., Tcheliaev A. P., Tcheremiskin I. V. // Guide-Wave Optics / SPIE. — Vol. 1932. — 1993. — P. 312.