Discrete and Continuous Models and Applied Computational ScienceDiscrete and Continuous Models and Applied Computational ScienceDiscrete and Continuous Models and Applied Computational Science2658-46702658-7149Peoples' Friendship University of Russia named after Patrice Lumumba (RUDN University)8326ArticlesСтатьиConference Report, Theses of ReportEstimation of Losses in Optical Film Waveguides with Rough Surfaces and AbsorptionОценка потерь в оптических плёночных волноводах с шероховатыми границами и поглощениемDanilenkoS SДаниленкоСтанислав СергеевичDepartment of RadiophysicsКафедра радиофизикиdanstaser@mail.ruOsovitskiiA NОсовицкийАнатолий НиколаевичDepartment of RadiophysicsКафедра радиофизикиaosov41@mail.ruPeoples’ Friendship University of RussiaРоссийский университет дружбы народов150120131NO1 (2013)№1 (2013)14114708092016Copyright ©; 2013, Даниленко С.С., Осовицкий А.Н.2013Даниленко С.С., Осовицкий А.Н.http://creativecommons.org/licenses/by/4.0https://journals.rudn.ru/miph/article/view/8326The method of small indignations with use of the optics-geometrical approach solves a problem of light propagation in a film waveguide with rough surfaces and absorption. Experimental researches specified waveguide structures are carried out. Results of these researches substantially do not correspond to conclusions of the developed theory. As a result of the analysis of the revealed discrepancies and additional calculations more exact model of scattering process in film waveguides with rough surfaces is offered.Методом малых возмущений с использованием оптико-геометрического подхода решена задача о распространении света в плёночном волноводе с шероховатыми границами и поглощением. Выполнены экспериментальные исследования указанных волноводных структур. Результаты этих исследований несколько расходятся с выводами развитой теории. В итоге анализа выявленных несоответствий предложена более точная модель процесса рассеяния в плёночных волноводах с шероховатыми границами.film waveguideroughnessabsorptionattenuation coefficientexperimental researchesплёночный волноводшероховатостьпоглощениекоэффициент затуханияэкспериментальные исследования1.Лебеденко Е. SNIPER: светлое будущее кремниевой нанофотоники // Компьютерра. — 2011. — № 79. — С. 17–46.2.Vlasov Y.A., McNab S.J. Losses in Single-Mode Silicon-on-Insulator Strip Waveguides and Bends // Optics Express. — 2004. — Vol. 12, No 8. — Pp. 1622–1631.3.Assefa S., Xia F., Vlasov Y.A. Reinventing Germanium Avalanche Photodetector for Nanophotonic On-Chip Optical Interconnects // Nature. — 2010. — No 464. — Pp. 80–84.4.Ultra-Compact, Low RF Power, 10 Gb/s Silicon Mach-Zehnder Modulator / W.M.J. Green, M.J. Rooks, L. Sekaric, Y.A. Vlasov // Optics Express. — 2007. — Vol. 15, No 25. — Pp. 17106–17113.5.Stutius W., Streifer W. Silikon Nitride Films on Silicon for Optical Waveguides // Appl.Optics. — 1977. — Vol. 16, No 12. — Pp. 3218–3222.6.Осовицкий А.Н. Интегральный подход к измерению параметров шероховатости поверхности по рассеянию света в диэлектрических волноводах // Радиотехника и электроника. — 2011. — Т. 56, № 1. — С. 43–47.7.Хаспенджер Р. Интегральная оптика: теория и технология. — М.: Мир, 1985.8.Осовицкий А.Н., Тупанов Л.В. Характеристики волноводного метода измерения параметров шероховатости гладких поверхностей диэлектриков // Радиотехника и электроника. — 2008. — Т. 53, № 6. — С. 706–714.9.Osovitskiy A.N., Tcheliaev A. P., Tcheremiskin I. V. // Guide-Wave Optics / SPIE. — Vol. 1932. — 1993. — P. 312.