<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE root>
<article xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xmlns:ali="http://www.niso.org/schemas/ali/1.0/" article-type="other" dtd-version="1.2" xml:lang="en"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">Discrete and Continuous Models and Applied Computational Science</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="en">Discrete and Continuous Models and Applied Computational Science</journal-title><trans-title-group xml:lang="ru"><trans-title>Discrete and Continuous Models and Applied Computational Science</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn publication-format="print">2658-4670</issn><issn publication-format="electronic">2658-7149</issn><publisher><publisher-name xml:lang="en">Peoples' Friendship University of Russia named after Patrice Lumumba (RUDN University)</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id pub-id-type="publisher-id">8777</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="toc-heading" xml:lang="en"><subject>Articles</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="toc-heading" xml:lang="ru"><subject>Статьи</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="article-type"><subject></subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title xml:lang="en">Fourier Analysis of Interferograms Formed by Surface-Plasmons Generated by Terahertz Synchrotron Radiation</article-title><trans-title-group xml:lang="ru"><trans-title>Фурье-анализ интерферограмм поверхностных плазмонов, генерируемых терагерцовым излучением синхротрона</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author"><name-alternatives><name xml:lang="en"><surname>Zhizhin</surname><given-names>G N</given-names></name><name xml:lang="ru"><surname>Жижин</surname><given-names>Герман Николаевич</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="en">Scientific and Technological Center for Unique Instrumentation of RAS</bio><bio xml:lang="ru">Научно-технологический центр уникального приборостроения РАН</bio><email>-</email><xref ref-type="aff" rid="aff1"/></contrib><contrib contrib-type="author"><name-alternatives><name xml:lang="en"><surname>Kyrianov</surname><given-names>A P</given-names></name><name xml:lang="ru"><surname>Кирьянов</surname><given-names>Анатолий Павлович</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="en">Scientific and Technological Center for Unique Instrumentation of RAS</bio><bio xml:lang="ru">Научно-технологический центр уникального приборостроения РАН</bio><email>-</email><xref ref-type="aff" rid="aff1"/></contrib><contrib contrib-type="author"><name-alternatives><name xml:lang="en"><surname>Golovtsov</surname><given-names>N I</given-names></name><name xml:lang="ru"><surname>Головцов</surname><given-names>Николай Иванович</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="en">Кафедра общей физики; Российский университет дружбы народов; People's Friendship University of Russia</bio><bio xml:lang="ru">Кафедра общей физики; Российский университет дружбы народов</bio><email>-</email><xref ref-type="aff" rid="aff2"/></contrib><contrib contrib-type="author"><name-alternatives><name xml:lang="en"><surname>Khitrov</surname><given-names>O V</given-names></name><name xml:lang="ru"><surname>Хитров</surname><given-names>Олег Владимирович</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="en">Close corporation "Sukhoi Civil Aircraft Company"</bio><bio xml:lang="ru">ЗАО «Гражданские самолёты Сухого»</bio><email>holeg21@mail.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff3"/></contrib><contrib contrib-type="author"><name-alternatives><name xml:lang="en"><surname>Nikitin</surname><given-names>A K</given-names></name><name xml:lang="ru"><surname>Никитин</surname><given-names>Алексей Константинович</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="en">Novosibirsk State University</bio><bio xml:lang="ru">Новосибирский государственный университет</bio><email>alnikitin@mail.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff4"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff1"><aff><institution xml:lang="en">Scientific and Technological Center for Unique Instrumentation of RAS</institution></aff><aff><institution xml:lang="ru">Научно-технологический центр уникального приборостроения РАН</institution></aff></aff-alternatives><aff-alternatives id="aff2"><aff><institution xml:lang="en">People's Friendship University of Russia</institution></aff><aff><institution xml:lang="ru">Российский университет дружбы народов</institution></aff></aff-alternatives><aff-alternatives id="aff3"><aff><institution xml:lang="en">Close corporation "Sukhoi Civil Aircraft Company"</institution></aff><aff><institution xml:lang="ru">ЗАО «Гражданские самолёты Сухого»</institution></aff></aff-alternatives><aff-alternatives id="aff4"><aff><institution xml:lang="en">Novosibirsk State University</institution></aff><aff><institution xml:lang="ru">Новосибирский государственный университет</institution></aff></aff-alternatives><pub-date date-type="pub" iso-8601-date="2012-01-15" publication-format="electronic"><day>15</day><month>01</month><year>2012</year></pub-date><issue>1</issue><issue-title xml:lang="en">NO1 (2012)</issue-title><issue-title xml:lang="ru">№1 (2012)</issue-title><fpage>85</fpage><lpage>95</lpage><history><date date-type="received" iso-8601-date="2016-09-08"><day>08</day><month>09</month><year>2016</year></date></history><permissions><copyright-statement xml:lang="ru">Copyright ©; 2012, Жижин Г.Н., Кирьянов А.П., Головцов Н.И., Хитров О.В., Никитин А.К.</copyright-statement><copyright-year>2012</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Жижин Г.Н., Кирьянов А.П., Головцов Н.И., Хитров О.В., Никитин А.К.</copyright-holder><ali:free_to_read xmlns:ali="http://www.niso.org/schemas/ali/1.0/"/><license><ali:license_ref xmlns:ali="http://www.niso.org/schemas/ali/1.0/">http://creativecommons.org/licenses/by/4.0</ali:license_ref></license></permissions><self-uri xlink:href="https://journals.rudn.ru/miph/article/view/8777">https://journals.rudn.ru/miph/article/view/8777</self-uri><abstract xml:lang="en">The problem of Fourier analysis of interferograms formed in terahertz (THz) synchrotron parallel beams, one of which is produced by surface plasmons (SPs) running along the surface of a conducting sample placed in one of the Mach-Zehnder interferometer arms, is considered in the paper. It is demonstrated that the analytical procedure employing the complete Fourier transform of the interferograms, got while scanning the movable mirror in the reference arm and registered at two distances run by the SPs, enables one to obtain the THz SPs complex refractive index spectrum and thus - the spectrum of the sample complex dielectric permittivity. Employment of a synchrotron source in SPs Fourier spectrometers raises the signal to noise ratio as compared to the blackbody emitter by a factor of 108 and facilitates the calibration procedure as synchrotron radiation intensity is in direct proportion to its frequency.</abstract><trans-abstract xml:lang="ru">В статье обсуждается методика выполнения фурье-анализа интерферограмм, получаемых в параллельных пучках терагерцового (ТГц) излучения синхротрона. При этом один из пучков взаимодействует с проводящим образцом, находящимся в плече интерферометра Маха-Цендера и направляющим излучение в форме поверхностных плазмонов (ПП). Анализ интерферограмм, получаемых при сканировании подвижного зеркала в опорном плече интерферометра и регистрируемых для двух расстояний пробега ПП, позволяет, применив к интерферограммам полное фурье-преобразование, получить ТГц-спектр комплексного показателя преломления ПП и, следовательно, - комплексной диэлектрической проницаемости образца или материала подложки.</trans-abstract><kwd-group xml:lang="en"><kwd>Fourier-analysis</kwd><kwd>complete Fourier transform</kwd><kwd>terahertz radiation</kwd><kwd>surface plasmons</kwd><kwd>thin films</kwd><kwd>interferometry</kwd><kwd>surface electromagnetic waves</kwd><kwd>optical constants</kwd><kwd>dielectric spectroscopy</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>фурье-анализ</kwd><kwd>полное фурье-преобразование</kwd><kwd>терагерцовое излучение</kwd><kwd>поверхностные плазмоны</kwd><kwd>тонкие слои</kwd><kwd>интерферометрия</kwd><kwd>поверхностные электромагнитные волны</kwd><kwd>оптические постоянные</kwd><kwd>диэлектрическая спектроскопия</kwd></kwd-group></article-meta></front><body></body><back><ref-list><ref id="B1"><label>1.</label><mixed-citation>Поверхностные поляритоны. Поверхностные электромагнитные волны на границах сред / под ред. В. М. Аграновича, Д. Л. Миллса. - М.: Наука, 1985. - 525 с. [Poverkhnostnihe polyaritonih. Poverkhnostnihe ehlektromagnitnihe volnih na granicakh sred / под ред. V. M. Agranovicha, D. L. Millsa. - M.: Nauka, 1985. - 525 s. ]</mixed-citation></ref><ref id="B2"><label>2.</label><mixed-citation>Rostani A., Rasooli H., Baghban H. Terahertz Technology: Fundamentals and Applications // Springer Series: Lecture Notes in Electrical Engineering. - 2011. - Vol. 77.</mixed-citation></ref><ref id="B3"><label>3.</label><mixed-citation>Hirori H., Nagai M., Tanaka K. Destructive Interference Effect on Surface Plasmon Resonance in Terahertz Attenuated Total Reflection // Optics Express. - 2005. - Vol. 13 (26). - Pp. 10801-10814.</mixed-citation></ref><ref id="B4"><label>4.</label><mixed-citation>Золотарев В.М. Методы исследования материалов фотоники: элементы теории и техники. - СПб.: СПбГУ ИТМО, 2008. - 275 с. [Zolotarev V. M. Metodih issledovaniya materialov fotoniki: ehlementih teorii i tekhniki. - SPb.: SPbGU ITMO, 2008. - 275 s. ]</mixed-citation></ref><ref id="B5"><label>5.</label><mixed-citation>Parker T.J. Fourier Transform Spectroscopy of Solids at Terahertz Frequencies // Terahertz Science and Technology. - 2009. - Vol. 2 (3). - Pp. 75-89.</mixed-citation></ref><ref id="B6"><label>6.</label><mixed-citation>Birch J.R., Parker T.J. Dispersive Fourier Transform Spectroscopy. - Academic Press, Inc., 1977. - Vol. 2. - Pp. 137-271.</mixed-citation></ref><ref id="B7"><label>7.</label><mixed-citation>Far-Infrared Time-Domain Spectroscopy with Terahertz Beams of Dielectrics and Semiconductors / D. Grischkowsky, S. Keiding, M. Exter, C. Fattinger // J. Opt. Soc. Am. (B). - 1990. - Vol. 7(10). - Pp. 2006-2015.</mixed-citation></ref><ref id="B8"><label>8.</label><mixed-citation>A Direct Comparison between Terahertz Time-Domain Spectroscopy and Far-Infrared Fourier Transform Spectroscopy / P.Y. Han, M. Tani, M. Usami et al. // J. Appl. Phys. - 2001. - Vol. 89(4). - Pp. 2357-2359.</mixed-citation></ref><ref id="B9"><label>9.</label><mixed-citation>Time-Domain Measurements of Surface Plasmon Polaritons in the Terahertz Frequency Range / J. Saxler, J. G. Rivas, C. Janke et al. // Phys. Rev. (B). - 2004. - Vol. 69. - Pp. 155427-1-155427-4.</mixed-citation></ref><ref id="B10"><label>10.</label><mixed-citation>Gong M., Jeon T.-I., Grischkowsky D. THz Surface Wave Collapse on Coated Metal Surfaces // Optics Express. - 2009. - Vol. 17(19). - Pp. 17088-17101.</mixed-citation></ref><ref id="B11"><label>11.</label><mixed-citation>Способ индикации дифракционных спутников поверхностных плазмонов терагерцового диапазона / В. В. Герасимов, Б. А. Князев, А. К. Никитин, В. В. Никитин // Письма в ЖТФ. - 2010. - Т. 36 (21). - С. 93-101. [Sposob indikacii difrakcionnihkh sputnikov poverkhnostnihkh plazmonov teragercovogo diapazona / V. V. Gerasimov, B. A. Knyazev, A. K. Nikitin, V. V. Nikitin // Pisjma v ZhTF. - 2010. - T. 36 (21). - S. 93-101. ]</mixed-citation></ref><ref id="B12"><label>12.</label><mixed-citation>Zhizhin G.N., Yakovlev V.A. Broad-Band Spectroscopy of Surface Electromagnetic Waves // Physics Reports. - 1990. - Vol. 194(5-6). - Pp. 281-289.</mixed-citation></ref><ref id="B13"><label>13.</label><mixed-citation>Two-Dimensional Optics with Surface Electromagnetic Waves / R.J. Bell, C.A. Goben, M. Davarpanah et al. // Applied Optics. - 1975. - Vol. 14 (6). - Pp. 1322-1325.</mixed-citation></ref><ref id="B14"><label>14.</label><mixed-citation>Кулипанов Г.Н., Скринский А.Н. Использование синхротронного излучения: состояние и перспективы // УФН. - 1977. - Т. 122(3). - С. 369-418. [Kulipanov G. N., Skrinskiyj A. N. Ispoljzovanie sinkhrotronnogo izlucheniya: sostoyanie i perspektivih // UFN. - 1977. - T. 122(3). - S. 369-418. ]</mixed-citation></ref><ref id="B15"><label>15.</label><mixed-citation>Харкевич А.А. Спектры и анализ. - 2009. [Kharkevich A. A. Spektrih i analiz. - 2009. ]</mixed-citation></ref><ref id="B16"><label>16.</label><mixed-citation>Optical Properties of Fourteen Metals in the Infrared and Far Infrared: Al, Co, Cu, Au, Fe, Pb, Mo, Ni, Pd, Pt, Ag, Ti, V, and W / M.A. Ordal, R.J. Bell, R.W. Alexander et al. // Applied Optics. - 1985. - Vol. 24(24). - Pp. 4493-4499.</mixed-citation></ref><ref id="B17"><label>17.</label><mixed-citation>Methods of Mathematical Physics. - 3-rd edition. - Cambridge, England: Cambridge University Press, 1988. - Pp. 445-446.</mixed-citation></ref><ref id="B18"><label>18.</label><mixed-citation>Светосильные спектральные приборы / В.А. Вагин, М.А. Гершун, Г.Н. Жижин, К.И. Тарасов; под ред. К.И. Тарасова. - М.: Наука, 1988. - 264 с. [Svetosiljnihe spektraljnihe priborih / V. A. Vagin, M. A. Gershun, G. N. Zhizhin, K. I. Tarasov; под ред. K. I. Tarasova. - M.: Nauka, 1988. - 264 s. ]</mixed-citation></ref><ref id="B19"><label>19.</label><mixed-citation>Лайонс Р. Цифровая обработка сигналов. - М.: БИНОМ, 2006. - 652 с. [Layjons R. Cifrovaya obrabotka signalov. - M.: BINOM, 2006. - 652 s. ]</mixed-citation></ref></ref-list></back></article>
