<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE root>
<article xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xmlns:ali="http://www.niso.org/schemas/ali/1.0/" article-type="other" dtd-version="1.2" xml:lang="en"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">Discrete and Continuous Models and Applied Computational Science</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="en">Discrete and Continuous Models and Applied Computational Science</journal-title><trans-title-group xml:lang="ru"><trans-title>Discrete and Continuous Models and Applied Computational Science</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn publication-format="print">2658-4670</issn><issn publication-format="electronic">2658-7149</issn><publisher><publisher-name xml:lang="en">Peoples' Friendship University of Russia named after Patrice Lumumba (RUDN University)</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id pub-id-type="publisher-id">8747</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="toc-heading" xml:lang="en"><subject>Articles</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="toc-heading" xml:lang="ru"><subject>Статьи</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="article-type"><subject></subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title xml:lang="en">Dielectric Spectroscopy of thin Films at Terahertz Frequencies</article-title><trans-title-group xml:lang="ru"><trans-title>Диэлектрическая спектроскопия тонких слоёв в терагерцовом диапазоне</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author"><name-alternatives><name xml:lang="en"><surname>Zhizhin</surname><given-names>G N</given-names></name><name xml:lang="ru"><surname>Жижин</surname><given-names>Герман Николаевич</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="en">Scientific and Technological Center for Unique Instrumentation of RAS</bio><bio xml:lang="ru">Научно-технологический центр уникального приборостроения РАН</bio><email>gzhizhin@mail.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff1"/></contrib><contrib contrib-type="author"><name-alternatives><name xml:lang="en"><surname>Golovtsov</surname><given-names>N I</given-names></name><name xml:lang="ru"><surname>Головцов</surname><given-names>Николай Иванович</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="en">Кафедра общей физики; Российский университет дружбы народов; Peoples Friendship University of Russia</bio><bio xml:lang="ru">Кафедра общей физики; Российский университет дружбы народов</bio><email>-</email><xref ref-type="aff" rid="aff2"/></contrib><contrib contrib-type="author"><name-alternatives><name xml:lang="en"><surname>Loginov</surname><given-names>A P</given-names></name><name xml:lang="ru"><surname>Логинов</surname><given-names>Альберт Питиримович</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="en">Кафедра общей физики; Российский университет дружбы народов; Peoples Friendship University of Russia</bio><bio xml:lang="ru">Кафедра общей физики; Российский университет дружбы народов</bio><email>-</email><xref ref-type="aff" rid="aff2"/></contrib><contrib contrib-type="author"><name-alternatives><name xml:lang="en"><surname>Nikitin</surname><given-names>A K</given-names></name><name xml:lang="ru"><surname>Никитин</surname><given-names>Алексей Константинович</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="en">Scientific and Technological Center for Unique Instrumentation of RAS</bio><bio xml:lang="ru">Научно-технологический центр уникального приборостроения РАН</bio><email>alnikitin@mail.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff1"/></contrib><contrib contrib-type="author"><name-alternatives><name xml:lang="en"><surname>Ryzhova</surname><given-names>T A</given-names></name><name xml:lang="ru"><surname>Рыжова</surname><given-names>Татьяна Александровна</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="en">Кафедра общей физики; Российский университет дружбы народов; Peoples Friendship University of Russia</bio><bio xml:lang="ru">Кафедра общей физики; Российский университет дружбы народов</bio><email>-</email><xref ref-type="aff" rid="aff2"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff1"><aff><institution xml:lang="en">Scientific and Technological Center for Unique Instrumentation of RAS</institution></aff><aff><institution xml:lang="ru">Научно-технологический центр уникального приборостроения РАН</institution></aff></aff-alternatives><aff-alternatives id="aff2"><aff><institution xml:lang="en">Peoples Friendship University of Russia</institution></aff><aff><institution xml:lang="ru">Российский университет дружбы народов</institution></aff></aff-alternatives><pub-date date-type="pub" iso-8601-date="2011-02-15" publication-format="electronic"><day>15</day><month>02</month><year>2011</year></pub-date><issue>2</issue><issue-title xml:lang="en">NO2 (2011)</issue-title><issue-title xml:lang="ru">№2 (2011)</issue-title><fpage>133</fpage><lpage>147</lpage><history><date date-type="received" iso-8601-date="2016-09-08"><day>08</day><month>09</month><year>2016</year></date></history><permissions><copyright-statement xml:lang="ru">Copyright ©; 2011, Жижин Г.Н., Головцов Н.И., Логинов А.П., Никитин А.К., Рыжова Т.А.</copyright-statement><copyright-year>2011</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Жижин Г.Н., Головцов Н.И., Логинов А.П., Никитин А.К., Рыжова Т.А.</copyright-holder><ali:free_to_read xmlns:ali="http://www.niso.org/schemas/ali/1.0/"/><license><ali:license_ref xmlns:ali="http://www.niso.org/schemas/ali/1.0/">http://creativecommons.org/licenses/by/4.0</ali:license_ref></license></permissions><self-uri xlink:href="https://journals.rudn.ru/miph/article/view/8747">https://journals.rudn.ru/miph/article/view/8747</self-uri><abstract xml:lang="en">The problem of thin ﬁlm dielectric spectroscopy at terahertz (THz) frequencies is under study in the paper. It has been stated that the technique employing surface plasmons (SP) excitation by the probing radiation on the metal substrate surface can be eﬀectively used for solving the problem. To adopt the SP spectroscopy technique to the THz range we have developed a number of methods and devices making possible to determine the SP's complex refractive index depending on the ﬁlm's optical properties. Some of the methods are based on interference of bulk and (or) surface waves, others - on the intensity measurements of the SP ﬁeld. In addition the methods developed enable one to perform the measurements for one pulse duration of the radiation.</abstract><trans-abstract xml:lang="ru">Статья посвящена разработке диэлектрической спектроскопии (ДС) тонкослойных объектов в терагерцовом (ТГц) диапазоне посредством поверхностных электромагнитных волн (ПЭВ). Разработан и представлен ряд способов и устройств, реализующих ТГц ДС и основанных на сильной зависимости комплексного показателя преломления ПЭВ κ от диэлектрической проницаемости материала переходного слоя поверхности, направляющей ПЭВ. Три из предложенных способов основаны на интерференции в параллельных или квази параллельных пучках объёмных и (или) поверхностных волн. Способы позволяют определить обе части κ в ходе одной измерительной процедуры, причём некоторые из устройств, реализующих способы, являются статическими со временем срабатывания равным длительности одного импульса излучения. Кроме того, предложены две неинтерферометричекие методики для определения Re(κ), реализуемые с использованием перестраиваемых по частоте источников монохроматического ТГц излучения.</trans-abstract><kwd-group xml:lang="en"><kwd>dielectric spectroscopy</kwd><kwd>terahertz radiation</kwd><kwd>surface plasmons</kwd><kwd>thin ﬁlms</kwd><kwd>interferometry</kwd><kwd>surface electromagnetic waves</kwd><kwd>optical constants</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>диэлектрическая спектроскопия</kwd><kwd>терагерцовое излучение</kwd><kwd>поверхностные плазмоны</kwd><kwd>тонкие слои</kwd><kwd>интерферометрия</kwd><kwd>поверхностные электромагнитные волны</kwd><kwd>оптические постоянные</kwd></kwd-group></article-meta></front><body></body><back><ref-list><ref id="B1"><label>1.</label><mixed-citation>Волков А. А., Прохоров А. С. Широкополосная диэлектрическая спектроскопия твёрдых тел // Радиофизика и квантовая электроника. - 2003. - Т. 46, № 8-9. - С. 657-665. [Volkov A. A., Prokhorov A. S. Shirokopolosnaya diehlektricheskaya spektroskopiya tvyordihkh tel // Radiofizika i kvantovaya ehlektronika. - 2003. - T. 46, No 8-9. - S. 657-665.]</mixed-citation></ref><ref id="B2"><label>2.</label><mixed-citation>Поверхностные поляритоны. Поверхностные электромагнитные волны на границах сред / под ред. В. М. Аграновича, Д. Л. Миллса. - М.: Наука, 1985. - 525 с. [Poverkhnostnihe polyaritonih. Poverkhnostnihe ehlektromagnitnihe volnih na granicakh sred / под ред. V. M. Agranovicha, D. L. Millsa. - M.: Nauka, 1985. - 525 s.]</mixed-citation></ref><ref id="B3"><label>3.</label><mixed-citation>Zhizhin G. N., Yakovlev V. A. Broad-Band Spectroscopy of Surface Electromagnetic Waves // Phys. Reports. - 1990. - Vol. 194(5/6). - Pp. 281-289.</mixed-citation></ref><ref id="B4"><label>4.</label><mixed-citation>Никитин А. К. Плазмонная оптометрия. Дисс. д.т.н. - Москва, НТЦ УП РАН, 2002. - 270 с. [Nikitin A. K. Plazmonnaya optometriya. Diss. d.t.n. - Moskva, NTC UP RAN, 2002. - 270 s.]</mixed-citation></ref><ref id="B5"><label>5.</label><mixed-citation>Csurgay A. I., Porod W. Surface Plasmon Waves in Nanoelectronic Circuits // Int. J. Circuit Theory &amp; Appl. - 2004. - Vol. 32. - Pp. 339-361.</mixed-citation></ref><ref id="B6"><label>6.</label><mixed-citation>Absorption of Surface Plasmons in Metal-Cladding Layer-Air Structure at Terahertz Frequencies / G. N. Zhizhin, А. К. Nikitin, G. D. Bogomolov et al. // Infrared Phys. &amp; Technology. - 2006. - Vol. 49(1-2). - Pp. 108-112.</mixed-citation></ref><ref id="B7"><label>7.</label><mixed-citation>Gong M., Jeon T.-I., Grischkowsky D. THz Surface Wave Collapse on Coated Metal Surfaces // Optics Express. - 2009. - Vol. 17(19). - Pp. 17088-17101.</mixed-citation></ref><ref id="B8"><label>8.</label><mixed-citation>Free-Electron Laser for Infrared SEW Characterization of Surfaces of Conducting and Dielectric Solids and nm Films on Them / G. N. Zhizhin, E. V. Alieva, L. A. Kuzik et al. // Appl. Phys.(A). - 1998. - Vol. 67. - Pp. 667-673.</mixed-citation></ref><ref id="B9"><label>9.</label><mixed-citation>Two-Dimensional Optics with Surface Electromagnetic Waves / R. J. Bell, C. A. Goben, M. Davarpanah, athers // Appl. Optics. - 1975. - Vol. 14 (6). - Pp. 1322-1325.</mixed-citation></ref><ref id="B10"><label>10.</label><mixed-citation>Балашов А. А., Жижин Г. Н., Никитин А. К., Рыжова Т. А. Плазмонный спектрометр терагерцового диапазона для исследования проводящей поверхности. - Патент РФ на изобретение №2318192. - Бюл. № 6 от 27.02.2008 г. [Balashov A. A., Zhizhin G. N., Nikitin A. K., Rihzhova T. A. Plazmonnihyj spektrometr teragercovogo diapazona dlya issledovaniya provodyatheyj poverkhnosti. - Patent RF na izobretenie №2318192. - Byul. № 6 ot 27.02.2008 g.]</mixed-citation></ref><ref id="B11"><label>11.</label><mixed-citation>Koteles E. S., McNeill W. H. Far Infrared Surface Plasmon Propagation // Int. J. Infr. &amp; Millim. Waves. - 1981. - Vol. 2(2). - Pp. 361-371.</mixed-citation></ref><ref id="B12"><label>12.</label><mixed-citation>Способ индикации дифракционных спутников поверхностных плазмонов терагерцового диапазона / В. В. Герасимов, Б. А. Князев, А. К. Никитин, В. В. Никитин // Письма в ЖТФ. - 2010. - Т. 36, вып. 21. - С. 93-101. [Sposob indikacii difrakcionnihkh sputnikov poverkhnostnihkh plazmonov teragercovogo diapazona / V. V. Gerasimov, B. A. Knyazev, A. K. Nikitin, V. V. Nikitin // Pisjma v ZhTF. - 2010. - T. 36, вып. 21. - S. 93-101.]</mixed-citation></ref><ref id="B13"><label>13.</label><mixed-citation>Никитин А. К., Жижин Г. Н., Кирьянов А. П., Князев Б. А. Инфракрасный амплитудно-фазовый плазмонный спектрометр. - Заявка на изобретение, №2010126811 от 01.07.2010 г. [Nikitin A. K., Zhizhin G. N., Kirjyanov A. P., Knyazev B. A. Infrakrasnihyj amplitudno-fazovihyj plazmonnihyj spektrometr. - Zayavka na izobretenie, №2010126811 ot 01.07.2010 g.]</mixed-citation></ref><ref id="B14"><label>14.</label><mixed-citation>Optical Properties of the Metals Al, Co, Cu, Au, Fe, Pb, Ni, Pd, Pt, Ag, Ti and W in the Infrared and Far Infrared / M. A. Ordal, L. L. Long, R. J. Bell et al. // Appl. Optics. - 1983. - Vol. 22(7). - Pp. 1099-1119.</mixed-citation></ref><ref id="B15"><label>15.</label><mixed-citation>Определение показателя преломления поверхностных плазмонов ИК-диапазона методом статической асимметричной интерферометрии / Г. Д. Богомолов, Г. Н. Жижин, А. П. Кирьянов и др. // Известия РАН. Сер. физ. - 2009. - Т. 73, № 4. - С. 562-565. [Opredelenie pokazatelya prelomleniya poverkhnostnihkh plazmonov IK-diapazona metodom staticheskoyj asimmetrichnoyj interferometrii / G. D. Bogomolov, G. N. Zhizhin, A. P. Kirjyanov и др. // Izvestiya RAN. Ser. fiz. - 2009. - T. 73, No 4. - S. 562-565.]</mixed-citation></ref><ref id="B16"><label>16.</label><mixed-citation>Жижин Г. Н., Никитин А. К., Никитин В. В., Чудинова Г. К. Способ определения коэффициента затухания поверхностной электромагнитной волны инфракрасного диапазона за время одного импульса излучения. - Патент на изобретение РФ №2400714. - Бюл. 27 от 27.09.2010 г. [Zhizhin G. N., Nikitin A. K., Nikitin V. V., Chudinova G. K. Sposob opredeleniya koehfficientazatukhaniya poverkhnostnoyj ehlektromagnitnoyj volnih infrakrasnogo diapazonaza vremya odnogo impuljsa izlucheniya. - Patent na izobretenie RF №2400714. - Byul. 27 ot 27.09.2010 g.]</mixed-citation></ref><ref id="B17"><label>17.</label><mixed-citation>Schlesinger Z., Sievers A. J. IR Surface-Plasmon Attenuation Coefficients for Gecoatted Ag and Au Metalls // Physical Review (B). - 1982. - Vol. 26, No 12. - Pp. 6444-6454.</mixed-citation></ref><ref id="B18"><label>18.</label><mixed-citation>Knyazev B. A., Kulipanov G. N., Vinokurov N. A. Novosibirsk Terahertz Free Electron Laser: Instrumentation Development and Experimental Achievements // Meas. Sci. Techn. - 2010. - Vol. 21. - P. 054017.</mixed-citation></ref><ref id="B19"><label>19.</label><mixed-citation>Schade U., Ortolani M., Lee J. THz Experiments with Coherent Synchrotron Radiation from BESSY II // Synchrotron Rad. News. - 2007. - Т. 20(5). - С. 17-24.</mixed-citation></ref><ref id="B20"><label>20.</label><mixed-citation>Gerasimov V. V., Knyazev B. A., Khitrov O. V. et al. Noninterferometric Wayto Determine Surface-Plasmons Complex Refractive Index. - МеждународныйСимпозиум «Терагерцовое излучение: генерация и применение. Новосибирск, Институт ядерной физики СО РАН им. Г.И. Будкера, 26.07.2010-31.07.2010.</mixed-citation></ref></ref-list></back></article>
