Discrete and Continuous Models and Applied Computational ScienceDiscrete and Continuous Models and Applied Computational ScienceDiscrete and Continuous Models and Applied Computational Science2658-46702658-7149Peoples' Friendship University of Russia named after Patrice Lumumba (RUDN University)8440ArticlesСтатьиCalculated and Experimental Analysis of Characteristics of Spectrum Analyzer of Surface RoughnessРасчётный и экспериментальный анализ характеристик анализатора спектра шероховатости поверхностиOrazbayevB DОразбаевБахтияр ДжамбуловичКафедра радиофизики; Российский университет дружбы народов; Peoples' Friendship University of RussiaКафедра радиофизики; Российский университет дружбы народов-OsovitskiiA NОсовицкийАнатолий НиколаевичКафедра радиофизики; Российский университет дружбы народов; Peoples' Friendship University of RussiaКафедра радиофизики; Российский университет дружбы народовaosov41@mail.ruPeoples' Friendship University of RussiaРоссийский университет дружбы народов150420114NO4 (2011)№4 (2011)13514308092016Copyright ©; 2011, Оразбаев Б.Д., Осовицкий А.Н.2011Оразбаев Б.Д., Осовицкий А.Н.http://creativecommons.org/licenses/by/4.0https://journals.rudn.ru/miph/article/view/8440The analysis of characteristics of surface roughness spectrum analyzer prototype whichuses a waveguide light scattering is performed. Calculated characteristics and layout optionsare compared with measurements. The experimental spectrum of the surface roughness ofthe gradient waveguide is presented.Выполнен анализ характеристик макета анализатора спектра шероховатости поверхности, в котором используется волноводное рассеяние света. Расчётные характеристики и параметры макета сопоставляются с измеренными. Представлен экспериментальный спектр шероховатости поверхности градиентного волновода.surface roughness spectrumprototypemeasurementssensitivityresolutiongradient optical waveguideспектр шероховатости поверхностимакет, измерениячувствительностьразрешениеградиентный оптический волновод1.Osovitsky A. N., Tchelyev A. P., Tcheremiskin I. V. Light Scattering in a Thin-Film Waveguide and Surface Roughness Statistical Characteristic Determination // Proc. SPIE. - 1993. - Vol. 1932. - Pp. 312-349.2.Осовицкий А. Н., Тупанов Л. В. Рассеяние лазерного излучения на шероховатой границе плоского диэлектрического волновода // Радиотехника и электроника. - 2004. - Т. 49, № 8. - С. 989-994. [Osovickiyj A. N., Tupanov L. V. Rasseyanie lazernogo izlucheniya na sherokhovatoyj granice ploskogo diehlektricheskogo volnovoda // Radiotekhnika i ehlektronika. - 2004. - T. 49, No 8. - S. 989-994. ]3.Осовицкий А. Н., Тупанов Л. В. Характеристики волноводного метода измерения параметров шероховатости гладких поверхностей диэлектриков // Радиотехника и электроника. - 2008. - Т. 53, № 6. - С. 706- 714. [Osovickiyj A. N., Tupanov L. V. Kharakteristiki volnovodnogo metoda izmereniya parametrov sherokhovatosti gladkikh poverkhnosteyj diehlektrikov // Radiotekhnika i ehlektronika. - 2008. - T. 53, No 6. - S. 706-714. ]4.Использование волноводного рассеяния света для определения статистических характеристик шероховатости поверхностей / А. Н. Осовицкий, В. Е. Сотин, Л. С. Цеснек, А. Ф. Челяев // Оптико-механическая промышленность. - 1981. - № 7. - С. 1. [Ispoljzovanie volnovodnogo rasseyaniya sveta dlya opredeleniya statisticheskikh kharakteristik sherokhovatosti poverkhnosteyj / A. N. Osovickiyj, V. E. Sotin, L. S. Cesnek, A. F. Chelyaev // Optikomekhanicheskaya promihshlennostj. - 1981. - No 7. - С. 1. ]5.Теория дифференциального и интегрального рассеяния лазерного излучения прецизионной поверхностью диэлектрика / В. В. Азарова, В. Г. Дмитриев, Ю. Н. Лохов, К. Н. Малицкий // Квантовая электроника. - 2000. - Т. 30, № 4. - С. 360-364. [Teoriya differencialjnogo i integraljnogo rasseyaniya lazernogo izlucheniya precizionnoyj poverkhnostjyu diehlektrika / V. V. Azarova, V. G. Dmitriev, Yu. N. Lokhov, K. N. Malickiyj // Kvantovaya ehlektronika. - 2000. - T. 30, No 4. - S. 360-364. ]6.Конник М. В., Маныкин Э. А., Стариков С. Н. Расширение возможностей коммерческой цифровой фотокамкры для регистрации пространственных распределений интенсивности лазерного излучения // Квантовая электроника. - 2010. - Т. 40, № 4. - С. 314. [Konnik M. V., Manihkin Eh. A., Starikov S. N. Rasshirenie vozmozhnosteyj kommercheskoyj cifrovoyj fotokamkrih dlya registracii prostranstvennihkh raspredeleniyj intensivnosti lazernogo izlucheniya // Kvantovaya ehlektronika. - 2010. - T. 40, No 4. - С. 314. ]7.Осовицкий А. Н. Особенности рассеяния света на шероховатой границе градиентного волновода // Вестник РУДН. Серия «Математика. Информатика. Физика». - 2009. - № 1. - С. 96-101. [Osovickiyj A. N. Osobennosti rasseyaniya sveta na sherokhovatoyj granice gradientnogo volnovoda // Vestnik RUDN. Seriya «Matematika. Informatika. Fizika». - 2009. - No 1. - S. 96-101. ]