<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE root>
<article xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xmlns:ali="http://www.niso.org/schemas/ali/1.0/" article-type="research-article" dtd-version="1.2" xml:lang="en"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">Discrete and Continuous Models and Applied Computational Science</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="en">Discrete and Continuous Models and Applied Computational Science</journal-title><trans-title-group xml:lang="ru"><trans-title>Discrete and Continuous Models and Applied Computational Science</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn publication-format="print">2658-4670</issn><issn publication-format="electronic">2658-7149</issn><publisher><publisher-name xml:lang="en">Peoples' Friendship University of Russia named after Patrice Lumumba (RUDN University)</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id pub-id-type="publisher-id">8220</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="toc-heading" xml:lang="en"><subject>Articles</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="toc-heading" xml:lang="ru"><subject>Статьи</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="article-type"><subject>Research Article</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title xml:lang="en">Modulated Characteristics of Nanosize p-i-n SOI Units</article-title><trans-title-group xml:lang="ru"><trans-title>Модуляционные характеристики наноразмерных p-i-n КНИ устройств</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author"><name-alternatives><name xml:lang="en"><surname>Masalsky</surname><given-names>N V</given-names></name><name xml:lang="ru"><surname>Масальский</surname><given-names>Николай Валерьевич</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="en">Department of Applied Mathematics and Computer Science</bio><bio xml:lang="ru">Отдел прикладной математики и информатики</bio><email>volkov@niisi.ras.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff1"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff1"><aff><institution xml:lang="en">Scientific Research Institute for System Analysis of the Russian Academy of Sciences</institution></aff><aff><institution xml:lang="ru">ФГБУН "Научно-исследовательский институт системных исследований"</institution></aff></aff-alternatives><pub-date date-type="pub" iso-8601-date="2015-04-15" publication-format="electronic"><day>15</day><month>04</month><year>2015</year></pub-date><issue>4</issue><issue-title xml:lang="en">NO4 (2015)</issue-title><issue-title xml:lang="ru">№4 (2015)</issue-title><fpage>46</fpage><lpage>55</lpage><history><date date-type="received" iso-8601-date="2016-09-08"><day>08</day><month>09</month><year>2016</year></date></history><permissions><copyright-statement xml:lang="ru">Copyright ©; 2015, Масальский Н.В.</copyright-statement><copyright-year>2015</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Масальский Н.В.</copyright-holder><ali:free_to_read xmlns:ali="http://www.niso.org/schemas/ali/1.0/"/><license><ali:license_ref xmlns:ali="http://www.niso.org/schemas/ali/1.0/">http://creativecommons.org/licenses/by/4.0</ali:license_ref></license></permissions><self-uri xlink:href="https://journals.rudn.ru/miph/article/view/8220">https://journals.rudn.ru/miph/article/view/8220</self-uri><abstract xml:lang="en">Optical waveguide devices - modulators and switches are one of the most demanded photon devices on whom further possibility of increase of keyword parameters of integrated optical circuits and telecommunication systems depends. Search of new development approaches of necessary element basis on the basis of combination of planar technology of integrated optics and the thin-film technology “silicon on an insulator” is necessary for increase of their competitiveness. For silicon devices methods of electrooptical modulation are based on effect of dispersion of the free carriers which density depends on the level of applied voltage. In operation the perspectives of application of p-i-n of electrooptical modulators executed on the basis of the “silicon on an insulator” technology are discussed. In comparison with other class of modulators on the basis of lithium niobate, the researched devices potentially have a row of advantages, such as the low level of power consumption (within 1 W), nanosized miniaturization, high throughput (modulation frequency band over 100 GHz). The researched nanophoton devices are hi-tech and expensive. Their simulation at the physical layer is important and as for understanding of the physical processes proceeding in them and for optimization of their parameters for the purpose of achievement of optimum characteristics. On the basis of computer simulation in this operation possibility of optimization of parameters of nanosized electrooptical p-i-n of the waveguide modulators which potentially will allow to realize highly effective optical modulation is researched.</abstract><trans-abstract xml:lang="ru">Оптические волноводные устройства - модуляторы и переключатели являются одними из самых востребованных фотонных устройств, от которых зависит дальнейшая возможность повышения ключевых параметров интегральных оптических схем и телекоммуникационных систем. Для повышения их конкурентоспособности необходим поиск новых подходов к разработке необходимой элементной базы на основе совмещения планарной технологии интегральной оптики и тонкоплёночной технологии «кремний на изоляторе». Для кремниевых устройств методы электрооптической модуляции базируются на эффекте дисперсии свободных носителей, плотность которых зависит от уровня управляющего напряжения. В работе обсуждаются перспективы применения p-i-n электрооптических модуляторов, выполненные на основе технологии «кремний на изоляторе». По сравнению с другим классом модуляторов на основе ниобата лития, исследуемые устройства потенциально имеют ряд преимуществ, таких как низкий уровень потребляемой мощности (в пределах 1 Вт), наноразмерная миниатюризация, высокая пропускная способность (полоса частот модуляции свыше 100 ГГц). Исследуемые нанофотонные устройства являются высокотехнологичными и дорогостоящими. Их моделирование на физическом уровне важно как для понимания физических процессов, протекающих в них, так и для оптимизации их параметров с целью достижения оптимальных характеристик. На основе компьютерного моделирования в данной работе исследуется возможность оптимизации параметров наноразмерных электрооптических p-i-n волноводных модуляторов, которые потенциально позволят реализовать высокоэффективную оптическую модуляцию.</trans-abstract><kwd-group xml:lang="en"><kwd>silicon photonic</kwd><kwd>waveguide optic structure</kwd><kwd>p-i-n electrooptical modulator</kwd><kwd>silicon-on-insulator structure</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>кремниевая фотоника</kwd><kwd>волноводная оптическая структура</kwd><kwd>p-i-n электрооптический модулятор</kwd><kwd>структура «кремний на изоляторе»</kwd></kwd-group></article-meta></front><body></body><back><ref-list><ref id="B1"><label>1.</label><mixed-citation>International Technology Roadmap for Semiconductor 2014 Edition. - http://public.itrs.net.</mixed-citation></ref><ref id="B2"><label>2.</label><mixed-citation>Soref R. The Past, Present, and Future of Silicon Photonics // J. Sel. Top. Quantum Electron. 2006. Vol. 12. Pp. 1678-1687.</mixed-citation></ref><ref id="B3"><label>3.</label><mixed-citation>Devices and Architectures for Photonic Chip-Scale Integration / J. Ahn, M. Fiorentino, R. G. Beausoleil et al. // App. Phys. A. 2009. Vol. 95. Pp. 989-997.</mixed-citation></ref><ref id="B4"><label>4.</label><mixed-citation>Silicon Thermo-Optical Micro-Modulator with 700 kHz and 3 dB Bandwidth / C. Cocorullo, M. Iodice, I. Rendina, P.M. Sarro // Photon. Technol. Lett. 1995. Vol. 7. Pp. 363-365.</mixed-citation></ref><ref id="B5"><label>5.</label><mixed-citation>Soref R., Bennett B. Electro Optical Effects in Silicon // J. Quantum Electron. 1987. Vol. 23. Pp. 123-129.</mixed-citation></ref><ref id="B6"><label>6.</label><mixed-citation>Silicon Photonics / M. Salib, L. Liao, R. Jones et al. // Intel Technology Journal. 2004. Vol. 8. Pp. 143-160.</mixed-citation></ref><ref id="B7"><label>7.</label><mixed-citation>Nanophotonic Waveguides in Silicon-on-Insulator Fabricated with CMOS Technology / W. Bogaerts, R. Baets, P. Dumon et al. // J. of Lightwave Technology. 2005. Vol. 23. Pp. 401-412.</mixed-citation></ref><ref id="B8"><label>8.</label><mixed-citation>Silvaco International. - 4701 Patrick Henry drive, Bldg 1, Santa Clara, CA 94054. - http://www.silvaco.com.</mixed-citation></ref><ref id="B9"><label>9.</label><mixed-citation>Hewitt P.D., Reed G.T. Improved Modulation Performance of a Silicon p-i-n Device by Trench Isolation // J. Lightwave Technology. 2001. Vol. 19. Pp. 387-395.</mixed-citation></ref><ref id="B10"><label>10.</label><mixed-citation>Rsoft Photonic CAD. - RSoft Design Group, Inc. - http://www.rsoftdesign. com.</mixed-citation></ref><ref id="B11"><label>11.</label><mixed-citation>Масальский Н. В. Характеристики субмикронного фотонного фазового модулятора на структуре «кремний на изоляторе» // Нано и микросистемная техника. 2013. № 10. С. 38-42.</mixed-citation></ref><ref id="B12"><label>12.</label><mixed-citation>Silicon Electro-Optic Modulator Based on a Three Terminal Device Integrated in a Low-Loss Single-Mode SOI Waveguide / A. Cutolo, M. Iodice, P. Spirito, L. Zeni // J. Lightwave Technology. 1997. Vol. 15. Pp. 505-511.</mixed-citation></ref><ref id="B13"><label>13.</label><mixed-citation>Contact Resistivities and Electrical Characteristics of Co/Si Contact by Rapid Thermal Annealing / O. Nakatsuka, T. Ashizawa, H. Iwano et al. // Proc. Adv. Metallization Conf. - AMC 1998. Vol. 784. Warrendale, PA: 1999. Pp. 605-610.</mixed-citation></ref></ref-list></back></article>
